STEM（走査透過型電子顕微鏡）
収束電子ビームをスキャンして結像するため，TEMよりも厚い試料の観察が可能．観察できる試料厚は加速電圧300 kVのTEMで～300 nm程度であるが，同じ300 kVのSTEMでは厚さ５～６μmに達する．なおμmレベルの切片厚は，超高圧TEMでなければ観察できなかった．
実験医学 2010年1月号 Vol.28 No.1
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収束電子ビームをスキャンして結像するため，TEMよりも厚い試料の観察が可能．観察できる試料厚は加速電圧300 kVのTEMで～300 nm程度であるが，同じ300 kVのSTEMでは厚さ５～６μmに達する．なおμmレベルの切片厚は，超高圧TEMでなければ観察できなかった．
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