SIMS

SIMS（二次イオン質量分析法）．サンプルに金属やフラーレンやクラスターイオン（一次イオン）のビームを照射することによりサンプル中の成分をイオン化する方法．このときのイオンビームの照射範囲が1μm～と狭いため，空間分解能の高い分析が可能である．イオン化は真空下で行う．

参考書籍

• Vol. No. 特集「」
• 実験医学増刊 Vol.29 No.7 特集「細胞を創る・生命システムを創る」