原子間力顕微鏡

原子間力顕微鏡（AFM）．走査プローブ顕微鏡の1つ．試料と鋭い探針の間に働く原子間力を利用して，試料表面の形状を測定する．試料台に取り付けられた圧電素子の制御によって試料をナノメートルスケールで走査することが可能である．

実験医学増刊 Vol.30 No.7

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