高精度相関と簡便化を実現するin-resin CLEM

通常のCLEM（correlative light and electron microscopy，光線−電子相関顕微鏡法）は，光学（多くは蛍光）顕微鏡観察後に電子顕微鏡試料作製（化学染色・脱水処理・樹脂包埋）を行う．そのために，蛍光顕微鏡像と電子顕微鏡像の間には化学的・物理的歪みが生じ，“相関解析”するのに限界があった．これらの問題点を解決する手法として，電子顕微鏡用試料の超薄切片を用いて蛍光顕微鏡観察と電子顕微鏡観察を行う高精度のin-resin CLEMが開発されてきた．現在では，蛍光タンパク質や近接依存性標識法を用いたin-resin CLEM，間接蛍光抗原抗体法を用いたimmuno in-resin CLEMなど，蛍光顕微鏡解析に近い感覚でCLEMが可能となりつつある．