光-電子相関顕微鏡法CLEM：身近になった手法の実践ワークフロー

蛍光顕微鏡で「見えている」シグナルが，電顕レベルでどのような実体として存在するのか――．その問いに直接答えられるのが光−電子相関顕微鏡法（CLEM）である．かつては高難易度技術だったが， 電顕観察を走査型電子顕微鏡（SEM）で行うこと，そしてオスミウム酸固定後も退色しない蛍光色素の登場により，CLEMはこれまでよりはるかに手の届きやすい技術になった．本特集では，volume-CLEMとin-resin CLEMの最新手法を，導入の視点から整理し，研究への応用の可能性を提示する．